ESD测试等级分类简介—上海创京医疗器械检测公司

ESD测试等级分类简介

ESD（Electrostatic Discharge，电静电放电）测试是一种用于测试电子设备抗静电干扰的测试方法。在电子芯片制造、生产及使用过程中，静电会对芯片造成损伤，从而降低设备的性能，ESD测试则是为了检测及验证电子设备在可靠性及抗静电方面是否达到标准。

ESD测试等级分类包括了不同的测试条件，接下来将分别介绍它们。

Human Body Mode（HBM）等级

HBM是最常用的ESD测试等级之一，是以人体静电不放电电压（通常为2000V-4000V）作为典型的干扰源。人们在使用电子设备时，通过触摸或插拔等方式，会将自己体内的静电释放到接口或连接器上，这个过程会对芯片造成损害，因此需要进行HBM测试。

Machine Model（MM）等级

MM测试等级是针对机器静电放电的测试等级，模拟了静电放电对芯片所造成的威胁。MM测试等级比HBM等级高，电压通常为100V-400V左右，因此机器静电放电对芯片的破坏性比人的体典型静电放电弱许多。

Charged Device Model（CDM）等级

CDM测试等级则是一种模拟产品在制造及装配过程中可能会积累电荷的静态放电测试。不同于HBM及MM等级的电荷来源，CDM的电荷积累来自于制造过程中的摩擦等作用。CDM测试等级电压范围通常为1000V-2000V左右。

Transmission Line Pulse（TLP）等级

TLP测试等级则是一种模拟设备接收到雷击等电磁脉冲干扰的测试等级。在TLP测试过程中，设备会受到一个正弦波状的高压电流波，并测量设备对此波波形的响应。TLP测试等级的电流通常很高，为2-10A，测试时间也比较短，为10-30ns。

Machine Handling Test（MHT）等级

MHT测试等级是一种模拟机器对芯片造成的物理伤害，例如机械振动和机器受冲击的测试等级。在现实应用中，芯片需要承受各种紧急或异常情况，包括了产品运输或意外跌落等情况。

Conclusion

在现代电子领域中，ESD测试是非常重要的一项工作，它能确保电子设备的安全性及可靠性。针对不同ESD测试等级，测试者可以选择适当的测试设备及方法，以确保产品在多种干扰情况下的稳定性与可靠性。

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