EMC测试-EN61326-1性能排放标准

EN61326-1是欧洲性能排放标准。最新版本为EN 61326-1：2013，该版本取代了2006年的标准，并于2015年8月14日成为强制要求。根据此标准，测量，控制和实验室设备需要满足特定的性能要求。

在EN 61326-1的2013版中，性能标准A和B的第一部分保持不变。然而，该版本增加了与"允许的性能损失"相关的内容。如果制造商未确定最低性能级别或允许的性能损失，用户可以根据设备或产品文档的合理期望来推断它们。简而言之，产品的功能仍然可以通过用户的干预来恢复，只是这个版本有额外的措辞来澄清。

在2006年的版本中，EN61326-1参考了CISPR 11：2003，而在2013年的版本中参考了CISPR 11：2009+A1：2010。CISPR 11：2009的修订为3米测试距离上的"小型设备"建立了替代辐射发射限值。"小型设备"被定义为适合于距地平面1.5米的圆柱形测试体积和1.2米直径的设备，当放置在平坦表面上时。

在基本环境中的免疫力方面，EN 61326-1：2013将静电放电（ESD）的测试水平从之前的±4 kV接触放电和±4 kV空气放电增加到了±4 kV接触放电和±8 kV空气放电。这个变化旨在使标准更适合非实验室环境。对于磁敏设备，新标准增加了对工频磁抗扰度（IEC 61000-4-8）的要求，测试水平为3A/m。这些设备包括霍尔效应传感器和磁继电器。

在工业环境中的免疫力方面，EN 61326-1：2013的每个订单项都包含了符合2006标准的性能标准。除此之外，该部分基本保持不变。

对于受控EM环境的免疫性，以前版本的EN 61326：2006中有一个叫做"Measurement I/O"的端口类别，允许制造商定义测试级别，并在产品文档中说明EUT的测试级别。然而，在2013年的版本中，"Measurement I/O"这一端口类别已被删除。因此，之前属于该类别的端口现在将属于"信号/控制 I/O"类别，测试级别由标准定义，而不是由制造商指定。