EMC测试EN61326

最近，欧盟官方期刊发布了EN61326-1，新版标准EN61326-1：2013取代了EN 61326-1：2006，并于2015年8月14日成为了强制性要求。这个标准适用于测量、控制和实验室设备，所以更新将会影响大量设备。

在EN61326-1中，性能标准A和B的定义保持不变。然而，2013版增加了与“允许的性能损失”相关的部分。如果制造商没有确定极低性能级别或允许的性能损失，用户可以根据设备或产品文档的合理期望推断它们。换句话说，产品的功能仍然可以通过2006版本中指定的用户干预来恢复- 这个版本只是有额外的措辞来澄清。

在排放标准方面，2006版本参考CISPR 11：2003，而2013版本参考CISPR 11：2009 + A1：2010。CISPR11：2009的修订版本在3米测试距离的“小型设备”中建立了替代辐射发射限值，“小型设备”被定义为适合于距离地平面1.5米的圆柱形测试体积和1.2米的设备。放在平坦表面上时的直径。

在基本环境中的免疫力方面，EN61326-1：2013将静电放电（ESD）的测试水平从EN 61636-1：2006中的±4 kV接触放电和±4 kV空气放电增加到了±4 kV接触放电和±8 kV空气放电。这样的改变旨在使得标准更接近非实验室环境。此外，对于磁敏设备，EN61326-1：2013新增了对工频磁抗扰度（IEC 61000-4-8）的新要求，测试水平为3A/m。受影响的设备类型包括霍尔效应传感器和磁继电器。

在工业环境中的免疫力方面，2013版本中的每个订单项都符合2006版标准，没有进行其他更改，所以这一部分基本上是相同的。

在受控EM(电磁)环境中的免疫性方面，EN 61326：2006有一个名为“Measurement I/O”的端口类别，允许制造商定义测试级别，而且没有强制测试级别，制造商需要在产品文档中说明EUT的测试级别。然而，在EN61326：2013中，这个端口类别已经被删除。因此，之前属于“测量I/O”类别的端口现在将属于剩余的“I/O信号/控制”类别，所需的测试级别将由标准定义，而不是由制造商决定。